strucTEM Tools und Verfahren

NEU: strucTEM Measure

Mikroskopie-Bilder ausmessen:
Online, schnell, genau, flexibel

strucTEM Measure ist unsere Online-Software zum Vermessen von Mikroskopie Bildern.

strucTEM Measure

Measure Beschreibung

Rasterelektronenmikroskopie

Eigenschaften

Die Abbildung entsteht im Elektronenmikroskop (EM) durch die Wechselwirkung von Elektronen mit dem Objekt.
Beim Rasterelektronenmikroskop (REM) wird der Elektronenstrahl dabei über das abzubildende Objekt gerastert.
Charakteristisch sind Abbildungen von Oberflächen mit hoher Schärfentiefe.
Übliche Auflösungen: 1-30nm (je nach Instrument). Das Limit liegt derzeit bei ca. 0.4 nm.
Übliche Vergrößerungen: 10 - 300.000x

Typische Optionen

Detektion von Rückstreuelektronen oder Sekundärelektronen
Chemische Elementanalyse mittels EDX (Energiedispersive Röntgenspektroskopie

Auflichtmikroskopie

Eigenschaften

Das Objekt nicht durchstrahlt sondern von oben beleuchtet (Auflichtmikroskopie). So ist auch die Beobachtung von kompakten Proben möglich
Übliche Auflösungen: 5µm- max. 0.5µm. Zum Vergleich: sie beträgt beim menschlichen Auge ca. 330 µm.
Übliche Vergrößerungen: 6-150fach

Stereomikroskopie

Zwei optische Strahlengänge ermöglichen einen dreidimensionalen Eindruck des untersuchten Objektes.

Aufgrund der drei-dimensionalen Bildgebung eignet sich das Stereomikroskop ideal für Voruntersuchungen von Proben und die Auswahl von Bereichen, die bei höheren Vergrößerungen (z.B. in einem Elektronenmikroskop) untersucht werden sollen.

Durchlichtmikroskopie

Eigenschaften

Optische Vergrößerung von transparenten Objekten (z.B extrem dünne Querschnitte), die durchstrahlt werden können
Maximale Auflösung: ca. 200 nm
Übliche Vergrößerungen: 40-1000x

Optionen

Hellfeld: das durch das Objekt hindurchgegangene Licht wird beobachtet. Kontrastentstehung durch Absorption in Bereichen hoher Dichte.
Dunkelfeld: Beobachtung von Streulicht. Strukturen von durchsichtigen Objekten mit geringem Kontrast können gut dargestellt werden.

Transmissions-
Elektronenmikroskopie

Eigenschaften

Beim Transmissionselektronenmikroskop (TEM) durchstrahlen die Elektronen ein ausreichend dünnes Objekt (i.d.R. 10 - 100nm dick).
Es werden keine Oberflächen, sondern die gesamten inneren Strukturen abgebildet.

Auflösungsgrenzen

Kryo-Elektronen-Tomographie: ~4 nm
Negativ-Kontrastierung von Makromolekülen: ~ 1.5 nm
3D-Kryo-Elektronen-Mikroskopie von Makromolekülen: ~ 2 Å
Elektronen-Kristallographie von Makromolekülen: ~ 1 Å

Email: kontakt @ structem.de

Tel: +49 9089 9690088

strucTEM Tools zur Strukturanalyse

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Rasterelektronenmikroskopie

Eigenschaften

Typische Optionen

Auflichtmikroskopie

Eigenschaften

Stereomikroskopie

Durchlichtmikroskopie

Eigenschaften

Optionen

Transmissions-
Elektronenmikroskopie

Eigenschaften

Auflösungsgrenzen

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Rasterelektronenmikroskopie

Eigenschaften

Typische Optionen

Auflichtmikroskopie

Eigenschaften

Stereomikroskopie

Durchlichtmikroskopie

Eigenschaften

Optionen

Transmissions- Elektronenmikroskopie

Eigenschaften

Auflösungsgrenzen

Transmissions-
Elektronenmikroskopie